Cyrille Bazin

Ingénieur d’études en sciences des matériaux et caractérisation du CNRS

LISE UMR 8235,

CNRS-Sorbonne Universités,

Tour 13-14, 4, place Jussieu, 75252 Paris
Bureau: 203, 2^ème étage
Téléphone : +33 1 44 27 5088/5095

Biographie :

Parcours professionnel:

• Depuis Octobre 2011: Laboratoire LISE : caractérisation Raman de différentes phases oxydées, de produits de corrosion en milieu naturel et sous électrode polarisée.

Actuellement : caractérisations par diffraction de rayons X - DRX de MnO2, calcite, matériaux en couches minces ; développement d’une expérience de couplage de mesures insitu pour caracteriser en DRX la croissance de matériaux et simultanément la cinétique électrochimique, et mise en place de méthode d’incidence rasante pour mesurer des films minces (épaisseurs nanométriques).

R&D dépôts électrochimiques de films minces et analyses de croissance cristalline en milieu aqueux

• 2008-2011 Ingénieur d’études au Laboratoire de l’Accélérateur Linéaire d’Orsay-IN2P3/CNRS: Etalonnage et mesures d'efficacités de détecteurs photomultiplicateurs matriciels: comptage de photons, résolution au photoélectron unique, acquisitions sous Labview, Wavecatcher, oscilloscopes Lecroy, Tektronix, développement d’un banc optique de mesure de photoréponse spectrale, avec un laser pulsé et mesures de résolutions temporelles de l’ordre de la picoseconde dans le cadre du projet Super B, utilisation de cryostats sous vide moyen, azote liquide et prise de contact sous pointes.

• de 2004 à 2007: technicien en caractérisations de rendements de cellules photovoltaïques au laboratoire de Génie Electrique LGEP Gif sur Yvette, dans l’Equipe semi-conducteurs en couches minces. Mesures par photo-courant modulé, Steady-State Photo-Carreer Grating, caractéristiques courant tension et température d’hétérojonctions CiGS, mesures d’absorption UV-Vis NIR avec un spectrometre Perkin-Elmer

• de 2001 à 2004: technicien en optique de précision au Laboratoire C. Fabry, Institut d'Optique Orsay équipe opto-mécanique, polissage, analyses de surfaces de composants optiques (rugosité, métrologie)

Parcours Universitaire

• 2013 : doctorat en Astrophysique et Cosmologie Aix-Marseille Universités: « L’interface photosphère-chromosphère/couronne: apport des éclipses et images EUV »

• 2009 : diplôme ingénieur CNAM – Paris en instrumentation optique et métrologie :

« Paramètres spectrophotométriques de filtres étalons Fabry-Perot H alpha »

Domaine de recherche :

Etude d’une technique d’observation de croissance de films minces, couplée à l’électrochimie

Outils et méthodes d’investigation :

Diffractométrie X, méthodes goniométrie et incidence rasante
Couplage cinétique électrochimie et diffraction X

Divers :

• Personne Compétente en Radioprotection PCR du LISE depuis Mars 2014