Contact : A. Pailleret (E-mail : alain.pailleret@sorbonne-universite.fr)
Inventée très peu après la microscopie à effet tunnel, la microscopie à force atomique repose quant à elle sur une mesure de force d'interaction entre la pointe et la surface. Son grand avantage sur le STM est de pouvoir travailler sur des substrats isolants. Elle peut elle aussi fonctionner en milieu électrolytique. La mesure de l'interaction pointe/surface se fait à l'aide d'un laser qui est réfléchi sur la face arrière du levier supportant la pointe. Une variante consiste à fixer une pointe sur un diapason en quartz (typiquement utilisé en horlogerie) et à mesurer les perturbations sur la résonance induites lors de l'interaction avec la surface. par ailleurs, la microscopie à force atomique fournit de nombreuses autres informations en plus de la topographie : conductivité électrique, élasticité, friction.