Contact : Françoise PILLIER
Conditions Générales et Tarifs
Le laboratoire LISE est doté d'un microscope électronique à balayage (MEB) à canon à emission de champ (FEG) ULTRA 55 de ZEISS. Il est équipé d'un spectromètre de rayon X à dispersion d'énergie EDS ainsi que d'un système de caractérisation EBSD.
La plateforme possède également deux appareils de dépôts permettant de préparer les échantillons en vue de leurs observations au microscope.
Descriptif de l'appareillage
La microscopie électronique à balayage ( MEB) est une technique analytique qui fournit des informations de surface à haute résolution et un excellent contraste de matériaux en utilisant le principe des interactions électron-matière.
Le MEB est aussi capable d'observer à de basse tensions, des objets de l'ordre du nanomètre en utilisant différents détecteurs.
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Détecteur d'électrons secondaires
Observation de la topographie des échantillons par la détection des électrons secondaires avec un detecteur de haute efficacité à basse tension In-Lens ou d'un détecteur de type Everhart Thornley SE2
Nanofils de polypyrrole synthétisés par voie électrochimique sans gabarit
(Electrochem. Commun. 2009, 11, 298).
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Détecteur d'électrons rétrodiffusés
Observation des différentes phases d'un échantillon selon leur numéro atomique par la détection des électrons rétrodiffusés BSE en utilisant un détecteur pour les hautes tensions AsB intégré dans la colonne ainsi que d'un détecteur pour les basses énergies EsB possédant une grille filtrante (0-1500V).
Soudure entre deux alliages d’aluminium
(2024 et 7475 immergée dans une solution de Na2SO4 0.1M)
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Analyse élémentaire par spectrométrie EDS
Le spectromètre EDX QUANTAX de chez BRUKER est un équipement de microscope électronique à balayage qui permet de déterminer la nature et la concentration des élements présents.
L'impact des électrons à la surface de l'échantillon produit l'émission de photons, traduit par un spectre d'émission X caractéristique des éléments présents. L'analyse est possible sur des échantillons petits ou large, massif ou minces supportant le vide et le faisceau d'électrons.
Spectre
Cu 90.10%
Sn 9.90%
Cu 75.17 %
Sn 24.83%
Il est également possible de réaliser des cartographies élémentaires. Cela permet d'avoir une information sur la répartition des différents éléments dans un échantillon. En chaque point de la cartographie, est stocké un spectre EDS. On peut aussi extraire un spectre moyen d'une zone de l'image ou faire un calcul de phase sur toute la cartographie.
Cartographie X
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Analyse de la diffraction des électrons rétrodiffusés EBSD
L'EBSD est une technique d'acquisition basée sur la diffraction des électrons rétrodiffusés pour déterminer les orientations cristallographiques locales de grains au sein d'un materiaux
